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一.產品技術質量 

1.總體技術要求 

 *掃描方式：激光手持照相式
 *掃描技術：激光線網格掃描技術
 掃描區域：300 mm×275 mm
 景深：250 mm
 工作距離：300 mm
 *掃描速率： 480000 次/秒
 掃描分辨率：0.05 mm
 *測量精度：0.03 mm
 *體積精度：0.020 + 0.060 mm/m
 體積精度（結合DigiMetric）：0.020 + 0.025 mm/m
 測量范圍（物件尺寸）：0.1 ～8 m，可擴展
 傳輸方式： USB3.0
 工作溫度：-10 - 40℃
 工作濕度：10 - 90 % 

2.三維光學掃描系統配置與功能要求 

 (1) 數據采集傳感器：高速、高精密工業級相機2臺 
 * (2) 測量光源：14束交叉激光線+1束激光線，激光級別ClassII(人眼安全)，波長大于600納米
 (3) 計算機系統：支持windows 7及以上，32位和64位操作系統，支持內存16G以上
 (4) 拼接方式：系統整合“專業模式”全自動標志點拼接模塊
 (5) 全局誤差控制方式：系統整合GREC Pro全局誤差控制模塊
 * (6) 使用方便：整個過程全部手持完成，無需三腳架等支撐裝置
  (7) 普通環境下可以測量鎏金等高光亮物體以及黑色物體，無需噴涂顯影劑等預先處理
 (8)防抖設計：采用先進的防抖動算法，防止掃描過程中人為的抖動對誤差的影響
 * (9)掃描過程中可以進行實時可變點距掃描，實時加密局部細節點距 

 3.三維光學掃描系統軟件功能要求 

 * 全中文軟件界面
   * 自適應形面掃描模塊
  (1)  自動調節系統參數，自適應各種材質/顏色表面的不同掃描對象，無需手動調節
  (2)  可變點距掃描，在同一次掃描中，可對點距進行靈活設置和改變，同時滿足高速掃描以及精細掃描的需求 

 * 自動拼接模塊
 (1)  智能標志點識別技術：系統自動跟蹤識別標志點
 (2)  GREC Pro全局誤差控制模塊，可對拼接后的誤差進行全局控制 

 * 全局框架掃描模塊
 (1)  全局框架掃描技術，對框架點累積誤差進行全局控制
 (2)  兼容DigiMetric系統，搭載全局攝影測量技術可將掃描范圍擴展至幾十米 

    點云處理模塊
 掃描數據后，可進行點云噪聲處理及修剪
 基于曲率的點云精簡功能
 自動生成三角面 

 數據輸入輸出
 導出結果為ASC，STL，OBJ，OKO等格式數據輸出接口廣泛,測量結果可與CATIA、Geomagic Studio、Imageware等逆向工程軟件自由交換數據 

 其它
 *生產企業須通過雙軟企業認證，擁有國家級發明專利，并通過高新技術企業認定。
 供應商必須提供設備的軟硬件安裝調試。

二.蓓爾敏三維數據處理系統備件清單