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    BEM-SPMI-200D粗糙度輪廓儀一體機 
    
                                    
    
                                                                        
    產品編號：BEM-SPMI-200D 
    
                                                                        
    上架時間： 2024/09/23
    
                                    在線咨詢
                                
    
                            
    
                            
    
                                
    
                                    
    詳情介紹
    
                                
    
                                
    測量原理： 
      本儀器測量原理為直角坐標測量法，即通過X軸、Z1軸傳感器，測繪出被測零件的表面輪廓的坐標點，通過電器組件，將傳感器所測量的坐標點數據傳輸到上位PC機，軟件對所采集的原始坐標數據進行數學運算處理，標注所需的工程測量項目。
      此款儀器已可同國外進口儀器性能相比，各方面指標已達到國際標準，儀器符合國家標準GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998, 以及國際標準ISO5436, ISO11562,ISO4287的要求.
    設備參數：
    測量范圍
    X方向驅動器
    140mm
    Z1
    輪廓度量程
    20mm
    Z1
    粗糙度量程
    ±1500μm
    Z1
    分辨率0.02微米
    Z軸高度（立柱）
    400mm
    可檢測最小內孔
    5mm
    輪廓技術參數
    線性精度
    ±（1.2+|0.12H|）μm
    圓弧
    ±（1.2+R/12）μm
    角度
    ±1′
    直線度
    0.7μm/100mm
    粗糙度技術參數
    線性精度
    ≤±5%
    殘值噪聲
    ≤0.005μm
    重復穩定性
    試值3%
    截止波長
    0.025、0.08、0.25、0.8、2.5、8mm
    評定長度
    λcX1、2、3、4、5
    傳感器
    芯片類型
    美國
    分辨率
    0.02μm
    產地
    美國
    爬坡角度
    上升77度  下降87度
    粗糙度評定參數
    Ra、Rz、(Rmax、Ry)、Rt、Rp、Rpm、Rz(jis)、Rv、R3z、Rs m、Rsk、Rk、Rc、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2
    測量速度
    0.05-20mm/s
    Z軸速度
    0.05-20mm/s