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    BEM-SPMI-400輪廓測量儀

    產品編號:BEM-SPMI-400

    上架時間: 2024/09/23

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    詳情介紹

    測量原理:

      本儀器測量原理為直角坐標測量法,即通過X軸、Z1軸傳感器,測繪出被測零件的表面輪廓的坐標點,通過電器組件,將傳感器所測量的坐標點數據傳輸到上位PC機,軟件對所采集的原始坐標數據進行數學運算處理,標注所需的工程測量項目。

      此款儀器已可同國外進口儀器性能相比,各方面指標已達到國際標準,儀器符合國家標準GB/T3505-2000, GB/T6062-2001, GB/T10610-1998, 以及國際標準ISO5436, ISO11562,ISO4287的要求

    設備參數:

    測量范圍

    X方向驅動器

    140mm

    Z1

    輪廓度量程

    40mm

    Z1

    分辨率0.1微米

    Z軸高度(立柱)

    400mm

    可檢測最小內孔

    5mm

    輪廓技術參數

    線性精度

    ±(1.2+|0.12H|)μm

    圓弧

    ±(1.2+R/12μm

    角度

    ±1′

    直線度

    0.7μm/100mm

    傳感器

    芯片類型

    美國

    分辨率

    0.1μm

    產地

    美國

    爬坡角度

    上升77度 下降88度

    測量速度

    0.05-20mm/s

    Z軸速度

    0.05-20mm/s